平面光帶檢測儀 型號：JC-008
用途：
機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。
功率：20W 電源：220V/50Hz 燈源照射
 
平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做
 
平面平晶產(chǎn)品特點
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來
測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定
高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于
計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。