JFY3011A光耦參數(shù)測試儀

一、產(chǎn)品介紹和概述

產(chǎn)品用途：

JFY3011A型固態(tài)繼電器參數(shù)測試儀是專為各種4腳 6腳直流,交流的光耦固態(tài)繼電器開關(guān)的功能和參數(shù)設(shè)計(jì)的,其良好的中文界面軟件,簡化了用戶對(duì)JFY3011A的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數(shù)的設(shè)定,存入EEPROM中.此外,不需附加任何軟件或經(jīng)過特殊培訓(xùn),就可操作該儀器.

設(shè)備特點(diǎn):

 大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方便簡單.

 大容量EEPROM存儲(chǔ)器,儲(chǔ)存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號(hào)數(shù).

 全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

 內(nèi)置繼電器矩陣自動(dòng)連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

 高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓高可達(dá)1400V.

 重復(fù)"回路"式測試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題.

 軟件自校準(zhǔn)功能.

概述

JFY3011A為各種4 腳 6腳 交直流型光耦固態(tài)繼電器提供了輸入正向壓降（VF）和輸出正反向耐壓,觸發(fā)電流,導(dǎo)通內(nèi)阻,導(dǎo)通壓降等 最主要參數(shù)的測試,和參數(shù)"合格/不合格"(OK/NO)測試,且測試條件可以任意設(shè)置,測試正向壓降和輸出電流大可達(dá)2A，且用戶可通過機(jī)器上的鍵盤,很容易的把測試條件輸入進(jìn)去,并將參數(shù)存入EEPROM中,便于日后方便且快速的打開調(diào)用.

二、設(shè)備規(guī)格

產(chǎn)品信息：

設(shè)備型號(hào)：JFY3011A

設(shè)備名稱：固態(tài)繼電器參數(shù)測試儀

物理規(guī)格：

外形尺寸：300×300×20mm。

重量：約4.5 Kg。

使用環(huán)境要求：

電源電壓要求：AC220V，50HZ

功率：≤75W。

工作環(huán)境：0—40°C

相對(duì)濕度：≯85%  。

三、可測試器件類型及測試參數(shù)

可測試器件類型

 4腳光電                (如 PC817等類型）

 4腳開關(guān)(4腳SS_Relay)  （如AQY210等類型）

 4腳可控硅             （如FOMD3022等類型）

 6腳開關(guān)（6腳SS_Relay） (如LH1525等類型)

 6腳可控硅             （如moc3021類型）

 6腳單向可控硅      (如4N39)

測試參數(shù)條件及測試設(shè)置參數(shù)

  4腳光電類型引腳和測試條件注釋

※ 引腳AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.※

測試條件及測試設(shè)置參數(shù)

(1)VF:If: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時(shí)的測試電流.

(2) Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測試電壓.

(3) Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測試電流

(4) CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時(shí)輸入端的測試電流。

(5)CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時(shí)輸出端的測試電壓。

(6)Vsat:IF:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸入端的測試電流。

(7)Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸出端的測試電流。

  4 6 腳開關(guān)類型

      ※ 引腳

（1）AKLL:表示引腳自左向右排列分別為 ,A K L1 L2極.

※ 測試條件

(1)VF:If:表示測試光耦輸入正向VF壓降時(shí)的測試電流.

(2)VL:Bv:表示測試輸出端耐壓的測試電壓.

(3)VL:Ir：表示測試輸出端耐壓時(shí)的電流限制值.

(4)IFT:VL:表示測試輸入/輸出觸發(fā)電流時(shí)輸出端加的電壓值.

(5)IFT:IL:表示測試輸入/輸出觸發(fā)電流時(shí)輸出端加的電流值.

(6)Rson：If：表示測試輸出端導(dǎo)通內(nèi)阻輸入端加的測試電流值.

(7)Rson：Ic：表示測試輸出端導(dǎo)通內(nèi)阻輸出端加的測試電流值.

※ 測試顯示參數(shù)

(1)VF:表示輸入端的正向壓降,一般為1.0-1.6V左右.

(2)VL:表示輸出端的耐壓值.

(3)IFT:表示輸出端導(dǎo)通時(shí)輸入端所需的最小電流.

(4)Rson:輸出端加一定電流值時(shí)的導(dǎo)通內(nèi)阻值.

(5)FU:功能特性顯示.0表示輸出端為常開.1表示輸出端為常閉.

(6)IN:AKLL表示已經(jīng)引腳排列.

6腳可控硅類型引腳和測試條件注釋※ 引腳

(1)AKTT:表示引腳自左向右排列分別為 ,A K T1 T2極.

※ 測試條件及測試設(shè)置參數(shù)

(1)VF:If:表示測試輸入正向壓降VF時(shí)的測試電流.

(2)Vdrm：Bv：表示測試電壓值,因本機(jī)測試采用掃描方式,該項(xiàng)沒用.

(3)Vdrm：Ir：表示測試耐壓時(shí)的電流限制值.

(4)IFT:IT:表示測試輸入/輸出觸發(fā)電流時(shí)輸出端加的電流值.

(5)IFT:VD; 表示測試輸入/輸出觸發(fā)電流時(shí)輸出端加的電壓值.

(6)VTM:If: 表示測試輸出端導(dǎo)通壓降輸入端加的測試電流值.

(7)VTM;Ic；表示測試輸出端導(dǎo)通壓降輸出端加的測試電流值.

※ 測試顯示參數(shù)

(1)VF:表示輸入端的正向壓降,一般為1.0-1.6V左右.

(2)Vdrm:表示輸出端的耐壓值.

(3)IFT:表示輸出端導(dǎo)通時(shí)輸入端所需的最小電流.

(4)VTM:輸出端加一定電流值時(shí)的導(dǎo)通壓降值.

(5)FU:功能特性顯示.0表示輸出端為非過零.1表示輸出端有過零功能.

(6)IN:AKTT表示已經(jīng)引腳排列.